二氧化硅薄膜厚度的测量方法有（）。A.比色法 B.双光干涉法 C.椭圆偏振光法 D. 发布时间：2020-01-14 05:16 │ 来源：www.tikuol.com 题型：多项选择题 问题： 二氧化硅薄膜厚度的测量方法有（）。A.比色法B.双光干涉法C.椭圆偏振光法D.腐蚀法E.电容-电压法
题型：多项选择题 已知椭圆x2a2+y2b2=1(a＞b＞0)上有一个顶点到两个焦点之间的距离分别为3+22，3-22．（1）求椭圆的方程；（2）如果直线x=t（t∈R）与椭圆相交于A，B，若C（-3，0），D（3，0），证明直线CA与直线BD的交点K必在一条确定的双曲线上；（3）过点Q（1，0）作直线l（与x轴不垂直）与椭圆交于M、N两点，与y轴交于点R，若RM=λMQ，RN=μNQ，证明：λ+μ为定值． 查看答案