通常双绞线系统的测试指标中()是由于集肤效应,绝缘损耗,阻抗不匹配,连接电阻等因素, 发布时间:2018-11-26 00:21 │ 来源:www.tikuol.com 题型:单项选择题 问题: 通常双绞线系统的测试指标中()是由于集肤效应,绝缘损耗,阻抗不匹配,连接电阻等因素,造成信号沿链路传输的损失。A.衰减值B.近端串绕C.传输延迟D.回波损耗