一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。 A.非破坏性检验 B.破坏性检验 发布时间:2018-06-07 15:03 │ 来源:www.tikuol.com 题型:单项选择题 问题: 一般情况下,电子元器件的寿命试验属于( )。A.非破坏性检验 B.破坏性检验 C.全数检验 D.感官检验