应用分光光度法测定样品时,校正波长是为了检验波长刻度与实际波长的(),并通过适当方法 发布时间:2017-07-14 04:27 │ 来源:www.tikuol.com 题型:填空题 问题: 应用分光光度法测定样品时,校正波长是为了检验波长刻度与实际波长的(),并通过适当方法进行修正,以消除因波长刻度的误差引起民的光度测定误差。
题型:填空题 在如图所示的倾角为θ的光滑斜面上,存在着两个磁感应强度大小均为B的匀强磁场区域,区域I的磁场方向垂直斜面向上,区域II的磁场方向垂直斜面向下,磁场和宽度HP及PN均为L,一个质量为m、电阻为R、边长也为L的正方形导线框,由静止开始沿斜面下滑,t1时刻ab边刚越GH进入磁场I区域,此时导线框恰好以速度v1做匀速直线运动;t2时刻ab边下滑到JP与MN的中间位置,此时导线框又恰好以速度v2做匀速直线运动。重力加速度为g,下列说法中正确的是A.当ab边刚好越过JP时,导线框具有加速度大小为a=gsinθB.导线框两次匀速直线运动的速度v1:v2=4:1C.从t1到t2的过程中,导线框克服安培力做功的大小等于重力势能的减少D.从t1到t2的过程中,有机械能转化为电能 查看答案